簡(jiǎn)要描述：葛蘭帕科技MWorkshopHR-AFMAF 原子力顯微鏡主要優(yōu)勢(shì)：1、全新設(shè)計(jì)的KMD運(yùn)動(dòng)學(xué)結(jié)構(gòu)，降低了噪音水平，輕松實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率。2、提供可視化下針系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)單，對(duì)新手友好。3、提高了掃描速度，10秒出圖。
產(chǎn)品型號(hào)：廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2026-05-20訪(fǎng) 問(wèn) 量：9576產(chǎn)品目錄
| 品牌 | 其他品牌 | 儀器種類(lèi) | 原子力顯微鏡 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,制藥/生物制藥 |
HR-AFM原子力顯微鏡
主要優(yōu)勢(shì)：
1、全新設(shè)計(jì)的KMD運(yùn)動(dòng)學(xué)結(jié)構(gòu)，降低了噪音水平，輕松實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率。
2、提供可視化下針系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)單，對(duì)新手友好。
3、提高了掃描速度，10秒出圖。
標(biāo)準(zhǔn)工作模式：輕敲模式(Vibration mode)，接觸模式 (Contact mode)，相位成像模式 (Phase imaging)，橫向力模式 (LFM)，力曲線(xiàn)測(cè)試（Force Curve），納米操控 （Nanomanipulation），納米刻蝕 （Nanolithography），力矩陣模式 （Force Mapping），摩擦力測(cè)試 （Friction Mode）
可選工作模式：導(dǎo)電原子力顯微鏡 （C-AFM），磁力顯微鏡（MFM），靜電力顯微鏡（EFM）,掃描電勢(shì)顯微鏡（SKPM），壓電力顯微鏡模式(PFM Mode)，液相模式 (Liquid Mode)
AFMWorkshop是專(zhuān)門(mén)從事設(shè)計(jì)和制造原子力顯微鏡的專(zhuān)業(yè)化公司 。公司創(chuàng)始人是有30年原子力顯微鏡經(jīng)驗(yàn)的 Paul West博士，原子力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。
掃描范圍：100 μm，50 μm，15μmZ方向范圍：17 μm，7 μmXY方向驅(qū)動(dòng)分辨率：0.01 nmZ方向驅(qū)動(dòng)分辨率：0.003 nmZ方向測(cè)量噪音水平：0.03 nm樣品尺寸：直徑25
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